電荷累加型TDICMOS探測器測試方法研究
作者：梁楠; 張斐然; 蔡帥; 李博; 李濤 北京空間機電研究所; 北京100094
摘要：隨著航天遙感領域?qū)Ψ直媛省⒏咚賯鬏?、低功耗方面需求的提?基于電荷累加的TDICMOS探測器應運而生。該探測器無論在工藝上還是探測器結構上均與TDICCD和傳統(tǒng)數(shù)字累加的CMOS器件有著本質(zhì)的不同。因此,許多關于探測器性能參數(shù)的測試方法無法適用于電荷累加的TDICMOS。本文基于電荷累加TDICMOS的自身特性,先后提出了關于電荷-DN轉(zhuǎn)換因子、滿阱電荷、電荷轉(zhuǎn)移效率、讀出噪聲等參數(shù)的新測試方法,同時搭建TDICMOS測試系統(tǒng)進行實驗驗證。實驗證明了上述測試方法的正確性和工程可實現(xiàn)性,為今后TDICMOS工程應用提供了重要依據(jù)。
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光電工程雜志
光電工程雜志， 月刊，本刊重視學術導向，堅持科學性、學術性、先進性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：綜述、科研論文等。于1974年經(jīng)新聞總署批準的正規(guī)刊物。
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