《失效分析應(yīng)用技術(shù)》新書介紹
作者： 《理化檢驗-物理分冊》編輯部
摘要：由上海材料研究所教授級高級工程師王榮編著的《失效分析應(yīng)用技術(shù)》一書,已于2019年4月由機械工業(yè)出版社出版。該書全面系統(tǒng)地介紹了失效分析中常用的分析技術(shù)和方法,內(nèi)容包括失效分析概述、現(xiàn)場勘查技術(shù)、宏觀分析技術(shù)、斷口分析技術(shù)、金相分析技術(shù)、定量分析技術(shù)、X射線分析技術(shù)、電子光學(xué)分析技術(shù)、痕跡分析技術(shù)、裂紋分析技術(shù)、失效診斷技術(shù)、失效預(yù)防與安全評估、失效分析在司法鑒定中的應(yīng)用、失效分析報告的撰寫等。
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理化檢驗·化學(xué)分冊雜志
理化檢驗·化學(xué)分冊雜志， 月刊，本刊重視學(xué)術(shù)導(dǎo)向，堅持科學(xué)性、學(xué)術(shù)性、先進性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：工作簡報、知識與經(jīng)驗、綜合信息、試驗與研究、實驗室管理、綜述、專題報道(XRFS)、專題報道(串聯(lián)質(zhì)譜法)、專題報道(礦物及金屬材料分析)等。于1963年經(jīng)新聞總署批準(zhǔn)的正規(guī)刊物。
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